Menurut laporan media asing, pengeluar pengesan cahaya Jepun Hamamatsu Photonics telah membangunkan sistem pemeriksaan berkelajuan tinggi yang dapat memeriksa kualiti cip Micro LED dengan cepat pada wafer.
Dilaporkan bahawa sistem pengesanan dipanggil MiNY PL. Ia menggunakan teknologi ujian fotoluminescence (PL) untuk mengesan keabnormalan dalam penampilan, intensiti bercahaya dan panjang gelombang cip LED. Teknologi ujian fotoluminescence yang digunakan adalah berdasarkan teknologi pemprosesan imej Hamamatsu Photon dan modul pengimejan baru yang dibangunkan.
Hamamatsu Photonics menyatakan bahawa sistem MiNY PL boleh dengan cepat menentukan sama ada cip itu layak apabila menguji cip Micro LED, yang kondusif untuk meningkatkan hasil produk LED Mikro untuk dipamerkan dan kecekapan R&D LED Mikro.
Di samping itu, sistem MiNY PL akan memudahkan 100% proses pemeriksaan pada barisan pengeluaran jisim Micro LED pada masa akan datang.
Secara kebetulan, terdapat berita baru-baru ini bahawa Apple sedang membangunkan sistem pemeriksaan LED Mikro dan telah mendapat paten yang berkaitan.
Sistem Apple mengesan dan mengesan kualiti cip MICRO LED dengan tepat sebelum ia dipindahkan ke panel paparan. Tujuannya juga adalah untuk mengurangkan kadar kecacatan dan kehilangan proses pengeluaran, dengan itu meningkatkan kebolehpercayaan paparan dan memastikan kualiti produk.
Saiz LED mikro mengecut, bilangan cip yang digunakan dan beban kerja proses ikatan pemindahan telah meningkat dengan banyaknya. Jika kadar kecacatan cip terlalu tinggi, ia akan mengurangkan hasil pengeluaran proses berikutnya, meningkatkan beban kerja kerja dan kos keseluruhan. Oleh itu, sangat penting untuk mengawal hasil pengeluaran dari proses front-end seperti mengesan kualiti cip, tetapi ini juga merupakan salah satu kesukaran dalam industri LED Mikro.
Untuk tujuan ini, banyak pengeluar peralatan telah meningkatkan usaha penyelidikan dan pembangunan mereka pada peralatan ujian LED Mikro, dan kemajuan semasa tidak sekata. Tanpa mengira butiran khusus, berita berkaitan kini menunjukkan bahawa terdapat kejayaan dalam pautan pemeriksaan kualiti cip, yang merupakan berita baik untuk industri LED Mikro.